Uticaj akumulacije elektrostatskog napona na komponente

May 27, 2019 Остави поруку

Uticaj akumulacije elektrostatičkog napona na komponente


Core Tip: Prekid napona se odnosi na prekid poluprovodničkog PN spoja ili dielektričnog sloja pod prenaponom. U savremenim VLSI krugovima, debljina sloja oksida kapije je tanka kao nanometri, a elektrostatički naponi mali kao sto volti ili desetci volti su dovoljni da uzrokuju kvar komponenti ili degradaciju performansi. Glavni izvor prenapona je triboelektrični. Kada osoba uđe u sobu ili



Prekid napona se odnosi na proboj poluvodičkog PN spoja ili dielektričnog sloja pod prenaponom. U savremenim VLSI krugovima, debljina sloja oksida kapije je tanka kao nanometri, a elektrostatički naponi mali kao sto volti ili desetci volti su dovoljni da uzrokuju kvar komponenti ili degradaciju performansi.


Glavni izvor prenapona je triboelektrični. Kada osoba uđe u prostoriju ili jednostavno uklanja integrisani krug iz materijala plastične omotnice, može generisati napon od 15.000 - 20000V, daleko veći od elektrostatičkog napona. Uzimajući, na primer, MOS tranzistor sa efektom polja, metalna aluminijumska kapija, izolacioni dielektrični sloj SIO2 i poluvodički N-kanal, takva struktura je ekvivalentna ravnom kondenzatoru koji ima kapacitet od oko 3 PF.

Kada se statički naboj akumulira na aluminijskoj rešetki, iz V = Q / C se zna da čak i mala količina naelektrisanja uzrokuje povećanje napona. Izdržljivi napon izolacionog dielektričnog sloja SIO2 je samo oko 100V. Kada elektrostatski napon dostigne ili premaši vrijednost izdržljivog napona, oksidni film će se razbiti, uzrokujući da rupe dovedu do komunikacije vrata, ošteteći uređaj, uzrokujući skrivene opasnosti ili čineći uređaj nevažećim.


Prekid napajanja se odnosi na prekid poluprovodničkog PN spoja, izolacioni dielektrični sloj, spojnu žicu, itd. Pod nadstrujom, koja je povezana sa oblikom, trajanjem i akumulacijom energije elektrostatičkog pulsa pražnjenja. Struja elektrostatičkog pražnjenja teče kroz unutrašnjost integriranog kruga uzrokujući povećanje temperature PN spoja.

Neki mogu spaliti unutarnje spojne žice ili uzrokovati sužavanje unutarnjih spojnih žica, a neke mogu uzrokovati legiranje ili difuziju metala, što na kraju može uzrokovati trajno oštećenje ili ozbiljno starenje uređaja. Električno starenje je "meki slom" većine glavobolja. Ne može se naći u to vrijeme, ali može propasti u bilo koje vrijeme. U ovom trenutku, elektronska oprema koja ga koristi nesumnjivo će donijeti velike skrivene opasnosti.